Metalenz與ST半導體合作開創商用新篇章

近日，Metalenz公司與全球領先的半導體製造商ST半導體共同研發的超表面光學技術（metasurface）已成功實現商用。這項技術將平面超透鏡應用於ST半導體的新型dToF感測器VL53L8，實現了大量出貨。此項技術將為眾多消費性電子、汽車和工業應用帶來效能、功耗、尺寸和成本的最佳化。