一徑科技推出雷射雷達環境適應套件EZ-Key

一徑科技在北京車展期間推出了全新的光達環境適應性套件EZ-Key，旨在協助客戶解決各類複雜場景下雷射雷達點雲適應性的問題。該套件包括髒污檢測、雨/霧/塵/廢氣檢測、拉絲演算法、鬼影去除演算法、膨脹點抑制演算法等功能，能夠有效提升雷射測距儀在各種環境下的性能表現。