Xi'an Yisiwei Material Technology Co., Ltd. y Xi'an Yisiwei Silicon Wafer Technology Co., Ltd. comparten el Premio a la Excelencia en Patentes de China

La tecnología de "método, dispositivo, equipo y medio de almacenamiento informático de control del diámetro del crecimiento de cristales" desarrollada conjuntamente por Xi'an Yisiwei Material Technology Co., Ltd. y Xi'an Yisiwei Silicon Wafer Technology Co., Ltd. les ha permitido ganar conjuntamente el 25º Premio a la Excelencia en Patentes de China. El éxito de este modelo de cooperación ha proporcionado nuevas ideas de desarrollo para otras empresas del sector.