Xi'an Yisiwei Material Technology Co., Ltd. e Xi'an Yisiwei Silicon Wafer Technology Co., Ltd. condividono il China Patent Excellence Award

La tecnologia del "metodo di controllo del diametro della crescita dei cristalli, dispositivo, attrezzatura e supporto di memorizzazione del computer" sviluppata congiuntamente da Xi'an Yisiwei Material Technology Co., Ltd. e Xi'an Yisiwei Silicon Wafer Technology Co., Ltd. ha permesso loro di vincere congiuntamente il 25° premio China Patent Excellence. Il successo di questo modello di cooperazione ha fornito nuove idee di sviluppo ad altre aziende del settore.