Xi'an Yisiwei Material Technology Co., Ltd. i Xi'an Yisiwei Silicon Wafer Technology Co., Ltd. dzielą się nagrodą China Patent Excellence Award

Technologia „metody kontroli wzrostu kryształu, urządzenia, sprzętu i komputerowego nośnika pamięci” opracowana wspólnie przez Xi'an Yisiwei Material Technology Co., Ltd. i Xi'an Yisiwei Silicon Wafer Technology Co., Ltd. umożliwiła im wspólne zwycięstwo 25. chińska nagroda za doskonałość patentową. Sukces tego modelu współpracy dostarczył nowych pomysłów na rozwój innym firmom z branży.