Forschungsteam der Universität Peking überwindet technischen Engpass bei GaN-basierten Leistungsgeräten

In den letzten fünf Jahren hat das Forschungsteam der School of Integrated Circuits der Peking-Universität und des Advanced Innovation Center of Integrated Circuits die drei größten technischen Herausforderungen von GaN-basierten Leistungsgeräten erfolgreich gelöst: Frequenzengpass, Zuverlässigkeitsengpass und Spannungsfestigkeitsengpass . Durch innovative Methoden erreichten sie die Hochspannungsbrückenintegration und die Niederspannungs-CMOS-Integration und entwickelten 10.000-Volt-GaN-basierte Hochspannungsgeräte. Diese Forschungsergebnisse nehmen weltweit eine Spitzenposition ein und fünf hochwertige Artikel wurden auf internationalen Konferenzen zu elektronischen Geräten veröffentlicht.