Infineon Technologies lancéiert nei Generatioun Siliziumkarbid (SiC) MOSFET Trench Gate Technologie

0
Infineon Technologies huet eng nei Generatioun vu Siliziumkarbid (SiC) MOSFET Trench Gate Technologie lancéiert, déi d'Haaptleistungsindikatore vu MOSFETs ëm 20% verbessert, an domat d'Energieeffizienz verbessert an d'niddreg Carboniséierung fördert. CoolSiC MOSFET's nei Generatioun G2 Technologie wäert weiderhin d'Leeschtungsvirdeeler vu Siliziumkarbid profitéieren, Energieverloscht reduzéieren an d'Effizienz am Kraaftkonversiounsprozess verbesseren.