Infineon цахиурын карбидын MOSFET найдвартай байдлын шинэ стандартыг нэвтрүүллээ

Infineon нь SiC MOSFET бүтээгдэхүүнүүддээ 500 кГц сэлгэн залгах давтамжтай хаалганы стресс тест (GSS) болон хувьсах гүйдлийн чийгшил ба температурын мөчлөгийн туршилт (AC-HTC) зэрэг найдвартай байдлын туршилтын өвөрмөц багц стандартуудыг боловсруулсан. Эдгээр туршилтууд нь автомашин гэх мэт салбар дахь SiC MOSFET-ийн найдвартай байдлыг хангах зорилготой юм.