Infineon lancerer ny siliciumcarbid MOSFET pålidelighedsteststandard
500 kHz
MOSFET
SiC MOS
SiC MOSFET
standard
del
tur
skifte
bil
skifte
pålidelighed
rat
design
fugtighed
ur
SiC
HTC
udvikle
industri
bil
2024-12-20 09:22
2
Infineon har udviklet et unikt sæt af pålidelighedsteststandarder for sine SiC MOSFET-produkter, herunder gate-stresstest (GSS) og AC-fugtigheds- og temperaturcyklustest (AC-HTC) ved 500 kHz skiftefrekvens. Disse tests er designet til at sikre højere pålidelighed af SiC MOSFET'er i applikationer i industrier som bilindustrien.
