Infineon lanseeraa uuden piikarbidin MOSFET-luotettavuustestistandardin

Infineon on kehittänyt ainutlaatuisen joukon luotettavuustestistandardeja SiC MOSFET -tuotteilleen, mukaan lukien gate stressitesti (GSS) ja AC-kosteus- ja lämpötilasyklitesti (AC-HTC) 500 kHz:n kytkentätaajuudella. Nämä testit on suunniteltu varmistamaan SiC MOSFET:ien parempi luotettavuus sovelluksissa teollisuudessa, kuten autoteollisuudessa.