Infineon lanza un nuevo estándar de prueba de confiabilidad MOSFET de carburo de silicio

Infineon ha desarrollado un conjunto único de estándares de prueba de confiabilidad para sus productos SiC MOSFET, incluida la prueba de esfuerzo de puerta (GSS) y la prueba de ciclo de temperatura y humedad de CA (AC-HTC) a una frecuencia de conmutación de 500 kHz. Estas pruebas están diseñadas para garantizar una mayor confiabilidad de los MOSFET de SiC en aplicaciones en industrias como la automotriz.