Infineon lancia un nuovo standard per i test di affidabilità dei MOSFET al carburo di silicio

Infineon ha sviluppato una serie unica di standard di test di affidabilità per i suoi prodotti MOSFET SiC, tra cui il test di stress del gate (GSS) e il test del ciclo di umidità e temperatura CA (AC-HTC) con una frequenza di commutazione di 500 kHz. Questi test sono progettati per garantire una maggiore affidabilità dei MOSFET SiC in applicazioni in settori come quello automobilistico.