Infineon lancéiert nei Siliziumkarbid MOSFET Zouverlässegkeet Test Standard

Infineon huet eng eenzegaarteg Rei vun Zouverlässegkeet Test Standarden fir seng SiC MOSFET Produkter entwéckelt, dorënner Gate Stress Test (GSS) an AC-Fiichtegkeet an Temperatur Zyklus Test (AC-HTC) bei 500kHz Schaltfrequenz. Dës Tester sinn entwéckelt fir méi héich Zouverlässegkeet vu SiC MOSFETs an Uwendungen an Industrien wéi Automotive ze garantéieren.