Infineon lanserer ny silisiumkarbid MOSFET pålitelighetsteststandard
500 kHz
MOSFET
SiC MOS
SiC MOSFET
standard
test
bil
pålitelighet
design
fuktighet
SiC
HTC
utvikle
fin
industri
bil
2024-12-20 09:22
2
Infineon har utviklet et unikt sett med pålitelighetsteststandarder for sine SiC MOSFET-produkter, inkludert gate-stresstest (GSS) og AC-fuktighets- og temperatursyklustest (AC-HTC) ved 500 kHz byttefrekvens. Disse testene er designet for å sikre høyere pålitelighet av SiC MOSFET-er i applikasjoner i bransjer som bilindustrien.
