Infineon выпускает новый стандарт испытаний надежности MOSFET-транзисторов из карбида кремния

Компания Infineon разработала уникальный набор стандартов испытаний надежности для своих продуктов SiC MOSFET, включая стресс-тест затвора (GSS) и испытание на воздействие влажности и температурного цикла переменного тока (AC-HTC) при частоте переключения 500 кГц. Эти испытания предназначены для обеспечения более высокой надежности SiC MOSFET в таких отраслях, как автомобилестроение.