Infineon lance une nouvelle norme de test de fiabilité MOSFET en carbure de silicium

Infineon a développé un ensemble unique de normes de test de fiabilité pour ses produits SiC MOSFET, notamment le test de contrainte de grille (GSS) et le test de cycle d'humidité et de température AC (AC-HTC) à une fréquence de commutation de 500 kHz. Ces tests sont conçus pour garantir une plus grande fiabilité des MOSFET SiC dans les applications dans des secteurs tels que l'automobile.