Infineon lança novo padrão de teste de confiabilidade MOSFET de carboneto de silício

A Infineon desenvolveu um conjunto exclusivo de padrões de teste de confiabilidade para seus produtos SiC MOSFET, incluindo teste de estresse de porta (GSS) e teste de ciclo de umidade e temperatura AC (AC-HTC) na frequência de comutação de 500kHz. Esses testes são projetados para garantir maior confiabilidade dos MOSFETs de SiC em aplicações em indústrias como a automotiva.